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簡要描述：熔噴布TSD熱刺激電流測試儀器/北京華測由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有測試功能，設(shè)備支持測試電壓10kV，采用冷臺的方式進(jìn)行加溫與制冷，測量引用使用低噪聲線纜，減少測試導(dǎo)線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-12-12訪 問 量：2779產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
熔噴布TSD熱刺激電流測試儀器/北京華測
HC-TSC2000熱刺激電流測試儀由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有測試功能，設(shè)備支持測試電壓10kV，采用冷臺的方式進(jìn)行加溫與制冷，測量引用使用低噪聲線纜，減少測試導(dǎo)線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量。
為賦予材料以駐極體特性，需要采用一定的手段將電荷注入到材料內(nèi)，這一過程稱為駐極。目前，MBPP 駐極體非織造布駐極的方法主要有電暈放電法，可分為正電暈放電和負(fù)電暈放電。正電暈放電時，在電場力作用下電子和陰離子向曲率半徑小的電極移動，正離子向鋪有 MBPP 的電極移 動; 負(fù)電暈放電時則相反。現(xiàn)有實踐表明，不同電暈駐極條件下獲得的MBPP 駐極體非織造布的過濾效率存在差異，但其機制并不清楚。表面電位大小是用來表征薄膜駐極體的一個重要參數(shù)，但對非織造布而言，表面電 位高低與其過濾效率并沒有很好的相關(guān)性。另 外，駐極體電荷在使用環(huán)境下的穩(wěn)定性也是影響其應(yīng)用的一個重要因素。針對以上問題，本文 采用熱刺激放電( TSD) 和表面電位分布測量技術(shù)，研究了 MBPP 駐極體非織造布的電荷存儲和電荷分布特性，分析了 MBPP 駐極體非織造布的電荷存儲機制，對造成產(chǎn)品差異的機制也進(jìn)行了討論。
消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響
電網(wǎng)諧波是電網(wǎng)中存在的除基波電壓、電流以外的高次諧波分量。諧波產(chǎn)生的根本原因是由于非線性負(fù)載所致。當(dāng)電流流經(jīng)負(fù)載時，與所加的電壓不呈線性關(guān)系，就形成非正弦電流，從而產(chǎn)生諧波。嚴(yán)重干擾通信、計算機系統(tǒng)、精度高的加工機械，檢測儀表等用電設(shè)備的使用。目前加熱裝置大都是交流加熱絲加熱。交流加熱即50Hz正弦波對加熱絲進(jìn)行加熱的方式。為了解決 這種工頻干擾以及電網(wǎng)諧波對測量的影響，華測儀器采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱。同時加入濾波等方式以好的減少對測量過程中的影響。大大提高測量的精度。
消除高溫環(huán)境下測量導(dǎo)線阻抗影響及內(nèi)部屏蔽
1、傳輸線受其材料及結(jié)構(gòu)的影響，當(dāng)傳輸高頻信號時，導(dǎo)線內(nèi)各點電流與電壓的特性比。阻抗的不一致(不匹配)會導(dǎo)致測量的數(shù)據(jù)存在一定的誤差。所以在測量過程中一定要采用阻抗匹配的測量導(dǎo)線；
2、測量的導(dǎo)線也存在著一定的阻抗及頻率響應(yīng)，故縮短測量導(dǎo)線將極大的提高測量精度；
3、高溫環(huán)境下的測量導(dǎo)線 無法做到好的屏蔽，大都只做了絕緣處理，高溫導(dǎo)線受溫度的影響阻值變大，高溫導(dǎo)線因要求通過絕緣件（如陶瓷、耐火材料等）將會把一部分電容引入測量。增大測量誤差；
4、測量的方式采用三電極測量，將會起到好的屏蔽作用。
優(yōu)化樣品的溫度測量方式及測量電極
1、通過平行板電極的測量原理，可以好的說明測量的電極盡可能小，減少空間及雜散電容的影響，較好的辦法是在樣品上濺射一層導(dǎo)電材質(zhì)。
2、因不同的材料熱晗不同，以熱電偶靠近樣品測試的溫度作為樣品的溫度同樣存在著一定的誤差。如果采用參比樣品的方式進(jìn)行測量，那么樣品的溫度就是材料真實溫度。
熔噴布TSD熱刺激電流測試儀器/北京華測
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